樣品室尺寸

W x D x H: 600 mm x 350 mm x 260 mm

樣品臺(tái)

W x D: 330 mm x 170 mm, 最大載重： 7 kg

測(cè)量氣體

空氣環(huán)境或可調(diào)真空（配備無油泵，約3分鐘可達(dá)2毫巴），可選氦氣吹掃系統(tǒng)

樣品行程

最大行程： W x D x H: 200 mm x 160 mm x 120 mm

掃描行程： W x D: 190 mm x 160 mm

移動(dòng)速度：采用TurboSpeed樣品臺(tái)時(shí)最高可達(dá)100 mm/s

樣品視圖

雙路實(shí)時(shí)俯視成像系統(tǒng)（不同放大倍率）實(shí)現(xiàn)樣品概覽與精確定位，側(cè)向魚眼鏡頭提供樣品室全景監(jiān)控

激發(fā)

第一X射線管：高亮度、輕元素微焦斑X射線管，配備多導(dǎo)毛細(xì)管X射線光學(xué)系統(tǒng)和孔徑管理系統(tǒng)（AMS）

靶材：銠（Rh），可選銀（Ag）

管參數(shù)：50 kV，30 W

光斑尺寸：使用多導(dǎo)毛細(xì)管透鏡時(shí)，≤20μm (Mo Kα @17.5 keV)

可選第二X射線管：細(xì)聚焦X射線管，配備四位置準(zhǔn)直器切換裝置，準(zhǔn)直器尺寸從0.5 mm到4.5 mm

靶材：鎢（W），可選銠（Rh）、鉬（Mo）、銅（Cu）、鉻（Cr）

管參數(shù)：50 kV，40 W

濾光片：8種激發(fā)濾光片

探測(cè)器

XFlash®超輕元素硅漂移探測(cè)器，可檢測(cè)從碳（C）到镅（Am）的元素，支持雙探測(cè)器 。

敏感區(qū)域面積：2 x 60 mm2；

能量分辨率：< 145 eV（在輸入計(jì)數(shù)率為 600,000 cps 時(shí)）；

吞吐量：最高可達(dá) 550,000 cps 輸出計(jì)數(shù)率

儀器控制

先進(jìn)的PC，Windows®操作系統(tǒng)

X射線管參數(shù)、濾光片、光學(xué)顯微鏡、樣品照明及樣品定位全面控制

光譜評(píng)估

峰識(shí)別、偽影與背景校正、峰面積計(jì)算、FP定量分析，使用 XMethod 進(jìn)行基于標(biāo)樣和無標(biāo)樣的校準(zhǔn)定量分析

分布分析

“On the fy" 測(cè)量，HyperMap功能

結(jié)果呈現(xiàn)

定量分析結(jié)果，統(tǒng)計(jì)評(píng)估，元素分布（線掃描，面掃描）

電源要求

100 - 240 V (1P), 50/60 Hz

尺寸和重量

W x D x H: 815 mm x 680 mm x 580 mm, 130 kg*

質(zhì)量與安全

DIN EN ISO 9001:2015, CE 認(rèn)證，UKCA 認(rèn)證；全面輻射防護(hù)系統(tǒng)；輻射量 < 1 μSv/h