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SmartProber TTBruker隧穿磁比率測量儀

布魯克Bruker隧穿磁比率測量儀SmartProber TT 具有平面內磁鐵的低成本臺式 CIPT 系統，適用于研究和開發這種低成本的臺式設備配有手動 xy 定位、全自動探頭著陸、平面內磁鐵和抗震臺。

更新日期：2024-12-02訪問量：2538廠商性質：代理商
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SmartProber-P1Bruker隧穿磁比率測量儀

布魯克Bruker隧穿磁比率測量儀SmartProber-P1 ——用于企業研發和故障分析中 300mm 晶圓應用的電動系統

更新日期：2024-12-02訪問量：2303廠商性質：代理商
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Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE

Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE ——用于幾乎所有先進薄膜或產品晶片測量的先進多模計量 FilmTek™ 2000標準桿數-SE光譜橢圓偏振儀/多角度反射儀系統結合了FilmTek技術，為從研發到生產的幾乎所有先進薄膜測量應用提供了業界的精度、精度和多功能性。其標準的小點測量尺寸和模式識別能力使該系統成為表征圖案化薄膜和產品晶片的理想選擇。

更新日期：2024-12-02訪問量：3006廠商性質：代理商
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Bruker FilmTek CD橢偏儀

Bruker FilmTek CD橢偏儀 ——多模態臨界尺寸測量和先進薄膜計量學 FilmTekTM CD光學臨界尺寸系統是我們解決方案，可用于1x nm設計節點及更高級別的全自動化、高通量CD測量和高級薄膜分析。該系統同時提供已知和*未知結構的實時多層堆疊特性和CD測量。 FilmTek CD利用多模測量技術來滿足與開發和生產中最復雜的半導體設計特征相關的挑戰性需求。

更新日期：2024-12-02訪問量：2799廠商性質：代理商
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Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSV

Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSV FilmTek™ 2000M TSV計量系統為先進的半導體封裝應用提供了速度和精度組合。該系統為各種封裝工藝和相關結構的高通量測量提供了測量性能和精度，包括表征抗蝕劑厚度、硅通孔（TSV）、銅柱、凸塊和再分布層（RDL）。

更新日期：2024-12-02訪問量：2612廠商性質：代理商
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