您的位置: 首頁 > 產品中心 > bruker > x射線衍射儀 > Bruker D8 ADVANCE x射線衍射儀

        Bruker D8 ADVANCE x射線衍射儀

        簡要描述:基于D8衍射儀系列平臺的D8 ADVANCE,是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選,如:

        典型的X射線粉末衍射(XRD)

        對分布函數(PDF)分析

        小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)

        由于具有出色的適應能力,僅使用D8 ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。

        無論是新手用戶還是專家用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更

        • 所在城市:上海市
        • 廠商性質:代理商
        • 更新日期:2025-04-22
        • 訪  問  量:60
        詳細介紹
        品牌Bruker/布魯克價格區間150萬-200萬
        儀器種類單晶衍射儀應用領域綜合

        Bruker D8 ADVANCE x射線衍射儀

        D8 ADVANCE 規格:

        功能

        規格

        優勢

        TRIO 光路和TWIN光路

        軟件按鈕切換:

        馬達驅動發散狹縫(BB幾何)

        高強度Ka1,2平行光束

        高分辨率Ka1平行光束

        可在多達6種不同的光束幾何之間進行全自動化電動切換,無需人工干預

        是所有類型的樣品分析的理想之選,包括粉末、塊狀材料、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)

        動態光束優化

        動態同步:

        馬達驅動發散狹縫

        馬達驅動防散射屏

        可變探測器窗口

        2?角度范圍:小于1度至>大于150度

        數據幾乎不受空氣、儀器和樣品架散射的影響

        大大提高了檢測下限,可定量分析少量晶相和非晶相

        在較小的2θ角度,可對粘土、藥物、沸石、多孔材料及其他材料進行精確研究

        LYNXEYE XE-T

        能量分辨率:<380 eV @ 8 KeV

        檢測模式:0D、1D、2D

        波長:Cr、Co、Cu、Mo和Ag

         

        無需K?濾波片和二級單色器

        銅輻射即可100%過濾鐵熒光

        速度比傳統探測器系統快450倍

        BRAGG 2D模式:使用發散的初級線束收集2D數據

        探測器保證:交貨時無壞道

        EIGER2 R

        Dectris 公司開發的基于混合光子計數技術的新一代探測器,支持多種模式(0D / 1D / 2D)

        在步進掃描、連續掃描和高級掃描模式中無縫集成0D、1D和2D檢測

        符合人體工程學的免對準探測器旋轉功能,可優化γ或2?角度范圍

        使用完整的探測器視野、免工具全景衍射光束光學系統 

        連續可變的探測器位置,以平衡角度范圍和分辨率

        旋轉光管

        在線焦斑和點焦斑應用之間輕松快捷地進行免對準切換

        無需斷開電纜或水管,無需拆卸管道

        DAVINCI設計:全自動檢測和配置聚焦方向

        自動進樣器

        FLIPSTICK:9個樣品

        AUTOCHANGER:90個樣品

        在反射和透射幾何中運行

        D8 測角儀

        帶獨立步進電機和光學編碼器的雙圓測角儀

        布魯克準直保證,確保了準確性和精確度

        免維護的驅動機構/齒輪裝置,終身潤滑

        非環境條件

        溫度:從~85K到~2500K

        壓力:10-?mbar至100 bar

        濕度:5%至95%

        在環境和非環境條件下進行研究

        DIFFRAC設計助您輕松更換樣品臺

         

        基于D8衍射儀系列平臺的D8 ADVANCE,是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選,如:

        • 典型的X射線粉末衍射(XRD)

        • 對分布函數(PDF)分析

        • 小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)

        由于具有出色的適應能力,僅使用D8 ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。

        無論是新手用戶還是專家用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。

         

        應用范圍:

        相鑒定:材料可靠性鑒別(PMI)最為常見,這是因為其對原子結構十分靈敏,而這無法通過元素分析技術實現。

        定量相分析:方法包括EVA軟件半定量分析、DQUANT軟件面積法分析和DIFFRACTOPAS軟件全譜擬合分析法

        非環境 XRD:可以在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步,然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結果

        織構分析:在DIFFRAC.TEXTURE軟件中,使用球諧函數和組分分析方法,生成極圖、取向分布函數(0DF)和體積定量分析。

        殘余應力分析:在DIFFRAC.LEPTOS中分析鋼部件的殘余應力:通過sin2psi方法,使用Cr輻射測量得到。

        X射線反射法(XRR):在DIFFRAC.LEPTOS中,對多層樣品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度進行XRR分析。

        小角X射線散射(SAXS):在DIFFRAC.SAXS中,對EIGER2R500K通過2D模式收集的NIST標樣SRM 80119nm金納米顆粒進行粒度分析。


        產品咨詢

        留言框

        • 產品:

        • 您的單位:

        • 您的姓名:

        • 聯系電話:

        • 常用郵箱:

        • 省份:

        • 詳細地址:

        • 補充說明:

        • 驗證碼:

          請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7
        Contact Us
        • QQ:3218790381
        • 郵箱:3218790381@qq.com
        • 地址:上海市閔行區中春路7001號C座1003室

        掃一掃  微信咨詢

        ©2025 上海爾迪儀器科技有限公司 版權所有    備案號:滬ICP備19038429號-5    技術支持:化工儀器網    Sitemap.xml    總訪問量:140873    管理登陸