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        bruker Dektak Pro臺階儀介紹
        BrukerDektakPro布魯克臺階儀DektakPro™以其多功能,使用的便捷性和在薄膜厚度、臺階高度、應(yīng)力、表面粗糙度和晶圓翹曲測量方面廣受贊許。第十一代Dektak®系統(tǒng),具有4?重復(fù)性的表現(xiàn),并提供200毫米平臺選項,在科研以及工業(yè)領(lǐng)域中可以為材料的表面形貌提供各種分析。DektakPro在表面測量方面設(shè)立了新的目標,是微電子......
        賽默飛X射線熒光光譜儀是一種分析技術(shù),通過測量樣品對X射線的吸收和發(fā)射來鑒定元素的種類和含量。這種技術(shù)在許多領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用,主要包括以下幾個方面:1、環(huán)境監(jiān)測:賽默飛X射線熒光光譜儀可以用于分析土壤、水、沉積物和其他環(huán)境樣品中的重金屬和其他有毒元素。這有助于評估環(huán)境污染程度,制定相應(yīng)的治理措施,保護生態(tài)環(huán)境。2、材......
        原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式:接觸模式(contactmode),非接觸模式(non-contactmode)和敲擊模式(tappingmode)。接觸模式從概念上來理解,接觸模式是AFM最直接的成像模式。AFM在整個掃描成像過程之中,探針針尖始終與樣品表面保持......
        等離子設(shè)備在多個領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,如電子、材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等。為了確保等離子設(shè)備的正常運行和延長其使用壽命,以下是一些建議的維護和保養(yǎng)方法:1、定期檢查電源線和插頭:確保電源線沒有磨損、斷裂或老化現(xiàn)象。檢查插頭是否松動或損壞,如有需要,及時更換。2、清潔設(shè)備表面:使用干凈的軟布輕輕擦拭設(shè)備表面,以去除灰塵和污垢。避......
        原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscope,AFM),一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)。將一對微弱力敏感的微懸臂一端固定,另一端的微小針尖接近樣品,這時它將與其相互作用,作用力將使得......
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