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        bruker Dektak Pro臺階儀介紹
        BrukerDektakPro布魯克臺階儀DektakPro™以其多功能,使用的便捷性和在薄膜厚度、臺階高度、應力、表面粗糙度和晶圓翹曲測量方面廣受贊許。第十一代Dektak®系統,具有4?重復性的表現,并提供200毫米平臺選項,在科研以及工業領域中可以為材料的表面形貌提供各種分析。DektakPro在表面測量方面設立了新的目標,是微電子......
        XRD即X射線衍射,通常應用于晶體結構的分析。X射線是一種電磁波,入射到晶體時在晶體中產生周期性變化的電磁場。引起原子中的電子和原子核振動,因原子核的質量很大振動忽略不計。振動著的電子是次生X射線的波源,其波長、周相與入射光相同。基于晶體結構的周期性,晶體中各個電子的散射波相互干涉相互疊加,稱之為衍射。散射波周相一致相......
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